2021/02/03 更新

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ツジ サトシ
辻 智
TSUJI Satoshi
所属
データサイエンス教育研究センター 特別任用教授

学位

  • 博士(工学) ( 1996年3月   名古屋大学 )

  • 工学修士 ( 1986年3月   名古屋大学 )

  • 工学学士 ( 1984年3月   名古屋大学 )

研究分野

  • 情報通信 / 統計科学

最終学歴

  • 名古屋大学   Graduate School, Division of Engineering   Quantum Engineering

    1993年4月 - 1996年3月

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    国名: 日本国

 

主な担当科目

  • データサイエンス入門 II

  • データサイエンス入門 I

  • データサイエンス概論

 

論文

  • Characterization of Transparent Conductors in Indium Zinc Oxide and Their Application to Thin-Film Transistor Liquid-Crystal Displays 査読

    H. Takatsuji, T. Hiromori, K. Tsujimoto, S. Tsuji, K. Kuroda, and H. Saka

    MRS Online Proceeding Library Archive   508   2011年2月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1557/PROC-508-315

  • Nanocharacterization of Texture and Hillock Formation in Thin Al And Al-0.2%Cu Films for Thin-Film Transistors 査読

    H. Takatsuji, S. Tsuji, H. Kitahara, K. Tsujimoto, K. Kuroda, and H. Saka

    MRS Online Proceeding Library Archive   441   2011年2月

  • Application of focused ion beam techniques and transmission electron microscopy to thin-film transistor failure analysis 査読

    Satoshi Tsuji Katsuhiro Tsujimoto Kotaro Kuroda Hiroyasu Saka

    Journal of Electron Microscopy   53 ( 5 )   465 - 470   2004年10月

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1093/jmicro/dfh090

  • 液晶ディスプレイの故障解析へのFIB/TEMの応用 査読

    辻 智、辻本勝浩、黒田光太郎、坂 公恭

    日本金属学会誌   68 ( 5 )   299 - 304   2004年3月

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • 認識限界コントラストに基づいた輝度ムラの定量化手法 査読

    森 由美, 田村 徹, 吉武 良治, 森口 喜代, 棚橋 高成, 辻 智

    映像情報メディア学会誌   56 ( 11 )   1837 - 1840   2002年11月

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    記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.3169/itej.56.1837

  • Application of FIB/TEM to LCD manufacturing 査読

    Tsuji S, Tsujimoto K, Kuroda K, and Saka H

    Electron Microscopy   37 ( 3 )   163 - 166   2002年

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • 断面TEM解析の液晶ディスプレイ実装技術への応用 査読

    辻本 勝浩, 辻 智, 黒田 光太郎, 坂 公恭

    日本金属学会会報 まてりあ   40 ( 12 )   997 - 997   2001年12月

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    記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.2320/materia.40.997

  • Electron microscopy observation of whiskers and hillocks formed on an Al film deposited on to a glass substrate 査読

    K. Tsujimoto, S. Tsuji & H. Saka

    Philosophical Magazine A   81 ( 2 )   287 - 299   2001年2月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1080/01418610108214303

  • Micro-characterization of deformation of conductive particles in ACF connection using transmission electron microscopy and finite element method 査読

    S. Tsuji, K. Tsujimoto, K. Tanahashi, H. Nishida, and S. Takahashi,

    Micro-Electronics Symposium 2001 (MES 2001)   159 - 162   2001年

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Cross-sectional analysis of anisotropically conductive film connection using transmission electron microscopy and finite element method 査読

    S. Tsuji, K. Tsujimoto, K. Tanahashi, H. Nishida, K. Kuroda, and H. Saka

    2001 International Conference on Electronics Packaging (2001 ICEP)   236 - 240   2001年

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Pure Al thin film protective layer to prevent stress migration in Al wiring for thin-film transistors 査読

    H.Takatsuji, K.Haruta, S.Tsuji, K.Kuroda, and H.Saka

    Surface and Coatings Technology   125 ( 1-3 )   167 - 172   2000年3月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/S0257-8972(99)00599-X

  • Quantitative evaluation of visual performance of liquid crystal displays 査読

    Y. Mori, K. Tanahashi, and S. Tsuji

    International Society for Optical Engineers   4113   242 - 249   2000年

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Al-based sputter-deposited films for large liquid-crystal-display 査読

    HiroshiTakatsuji, Toshiaki Arai, Satoshi Tsuji, K Kuroda, and H Saka

    Thin Solid Films   337 ( 1-2 )   235 - 239   1999年1月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/S0040-6090(98)01384-4

  • Novel Transparent Conductive Indium Zinc Oxide Thin Films with Unique Properties 査読

    Hiroshi Takatsuji, Satoshi Tsuji, Kotaro Kuroda, and Hiroyasu Saka

    Materials Transactions, JIM   40 ( 9 )   899 - 902   1999年

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.2320/matertrans1989.40.899

  • Application of cross-sectional transmission electron microscopy to thin-film-transistor failure analysis 査読

    Tsuji S, Tsujimoto K, and Iwama H

    IBM J. RES. DEVELOP   42 ( 3/4 )   509 - 516   1998年

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Transmission electron microscopy of thin-film transistors on glass substrates 査読

    Katsuhiro Tsujimoto, Satoshi Tsuji, Kotaro Kuroda, and Hiroyasu Saka

    Thin Solid Films   319   106 - 109   1998年

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Investigation of thin-film transistors using a combination of focused ion beam etching and cross-sectional transmission electron microscopy 査読

    Tsuji S, Tsujimoto K, Tsutsui N, Miura N, Kuroda K, and Saka H

    Thin Solid Films   281-282   562 - 567   1996年

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Cross-sectional characterization of thin-film transistors with transmission electron microscopy 査読

    Tsuji S, Tanaka M, Iwama H, Tsutsui N, Kuroda K, and Saka H

    J. Vac. Sci. Technol. B   13 ( 3 )   1353 - 1357   1995年

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Pinpoint cross-sectional characterization of thin-film transistors with transmission electron microscopy 査読

    Tsuji S, Tsujimoto K, Tsutsui N, Miura N, Kuroda K, and Saka H

    International Workshop on Active-Matrix Liquid Crystal Displays   125 - 128   1995年

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Matteucci effect of an amorphous alloy tip used for high-density magnetic recording with a scanning tunneling microscope 査読

    Satoshi Tsuji and Osaaki Watanuki

    Journal of Vacuum Science & Technology B   12 ( 3 )   2124 - 2127   1994年

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

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